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A JEOL está contente de apresentar as últimas novidades em SEM e microanálise, as quais ultrapassam limites que há poucos anos seriam considerados impossíveis. A nova tecnologia de microscópio combinada com novos espectrômetros não apenas melhorou a resolução da imagem, mas também aperfeiçoou a resolução espacial e espectral para microanálises em raio-x. A introdução de um novo tipo de espectrômetro WDS permite não apenas alta resolução espacial em análises químicas, mas inclui também a possibilidade de fazer análises de estados químicos, o que antes era possível apenas em escaneamento com Auger ou XPS.

Ultrahigh Resolution Analytical FE SEMs: JSM-7800F e JSM-7800F Prime

O último aparelho JEOL de super resolução analítica FE SEM, o JSM-7800F e JSM-7800F Prime, é a combinação de várias inovações em seu design que permitem super resolução em um kW ultra-baixo de imagem sem comprometer a performance analítica.

Veja mais informações acerca deste produto e das inovações nele contidas clicando aqui.

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